恒溫恒濕試驗箱，又稱恒溫恒濕試驗機、高低溫濕熱試驗箱、濕熱試驗箱，適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫濕熱試驗的環(huán)境試驗箱設(shè)備，可滿足電工電子產(chǎn)品及軍用設(shè)備等環(huán)境試驗 - 高溫試驗/低溫試驗/高低溫循環(huán)試驗/溫度變化試驗/濕熱試驗/恒定濕熱試驗/交變濕熱試驗。
產(chǎn)品介紹
星拓濕熱試驗箱溫濕度相對區(qū)域圖
星拓恒溫恒濕試驗箱設(shè)備證書
計算機軟件著作權(quán)登記證書：節(jié)能型可程式溫濕度控制系統(tǒng)V1.0
實用新型專利證書：
一種產(chǎn)品測試用環(huán)境模擬試驗箱 （專利號：ZL 2017 2 0229840.4）
一種密封型環(huán)境溫度試驗箱裝置 （專利號：ZL 2017 2 0208862.2）
第三方計量校準(zhǔn)證書：可程式恒溫恒濕試驗箱ATH-1000C（證書編號：HK09180906001）
試驗標(biāo)準(zhǔn)及方法
1）GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件；
2）GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；
3）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
5）GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 (IEC 60068-2-78：2012, IDT)；
6）GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）(IEC 60068-2-30:2005, IDT)；
7）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
8）GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗；
9）GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗；
10）GJB/T 150.9-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第8部分 濕熱試驗。
注：支持非標(biāo)定制
